㈠ 用XRD谱图中的半峰宽计算晶格畸变数据可信吗
个人以为，xrd只能半定量分析，是不太准确。
㈡ 透射电子显微镜的图片怎么看
一般透射电镜成像明场像是最容易理解的，透射电子散射角度大的区域暗，透射电子散射角度小的区域亮。最亮区域是孔隙，最暗区域是原子密度最高的部位！
透射电镜成像有多种模式，注意采用什么模式。
更多情况参考如下链接：http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20061031/609466/
㈢ 晶格畸变的定义
缺陷的出现破坏了原子间的平衡状态，使晶格发生扭曲，称为晶格畸变。
㈣ 杂质原子可以使原有晶体的晶格发生局部畸变，晶格畸变有哪几种情况
1）点缺陷 空位：高频率热振原离原平衡位置形 间隙原： 杂质原嵌入晶格使晶体发畸变 2）线缺陷 维缺陷：晶体表面位错密度影响晶体表面性质 3）面缺陷 二维缺陷包括表面、晶界、亚晶界、相界
㈤ 透射电镜选取电子衍射结果怎么分析
非晶的话不用分析
多晶的话是规则的同心圆环，测量出各个同心圆的半径，并计算出各自的半径比，对照XRD数据中的d值就可以知道各个圆环对应的晶面。
单晶是规则的点排列，分析起来比较麻烦。简单来说就是选择距离中心最近的三个点，构成一个平行四边形，并测量三个点到中心点的距离，以及四边形的夹角。然后利用rd=lλ进行计算（lλ为相机参数，r是你测量的半径）,这样就获得了d值，然后依据ASTM或者PDF卡片查询对应的d值，就可以得到对应的晶面。再将晶面做一计算，看所得的夹角是否和你测量的夹角一致，如果一致，说明标定是正确的。
㈥ 晶格畸变的过程
在产生晶格畸变时，原子离开了平衡位置，引起势能增加，体系混宽度增加，自由能升高，稳定性降低，对晶体的一系列物理和化学性质产生影响，如晶体的机械强度提高等。
㈦ 请问大家如何通过高倍透射电镜（HR-TEM）中的FFT分析晶面啊
准确点告诉你，中国会电镜的不多，操作的估计就那1-200人，精通的屈指可数，北京科技大学的有个张泽，王中林比较牛，当然，他的学生也应该会点。建议你找大牛直接虚心请教。或者去查询晶格条纹间距，然后对比，确定晶面，或者用XRD辅助找晶面，当然，这个是不准确的，只能是印证，为啥国内没高档次的，就是大家不会。希望寄托在你身上了:D
㈧ 晶体的3中缺陷都会使晶格发生畸变,那么,晶格畸变会使金属的性能产生什么影响
1、对于单晶体,将导致废品2、对于金属材料,有时候还需要这样的晶格变异,适当的晶格变异将会有助于提高材料的物理性能
㈨ 晶格畸变的性能影响
晶格畸变引起材料内能增高，微观应力增大，阻碍位错滑移变形，使材料强度、硬度提高。
㈩ 透射电镜图谱怎么分析
透射电子显微镜是一种具有高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器，被广泛应用于材料科学等研究领域。透射电镜以波长极短的电子束作为光源，电子束经由聚光镜系统的电磁透镜将其聚焦成一束近似平行的光线穿透样品，再经成像系统的电磁透镜成像和放大，然后电子束投射到主镜简最下方的荧光屏上而形成所观察的图像。在材料科学研究领域，透射电镜主要可用于材料微区的组织形貌观察、晶体缺陷分析和晶体结构测定。
明暗场成像原理:晶体薄膜样品明暗场像的衬度(即不同区域的亮暗差别)，是由于样品相应的不同部位结构或取向的差别导致衍射强度的差异而形成的，因此称其为衍射衬度，以衍射衬度机制为主而形成的图像称为衍衬像。如果只允许透射束通过物镜光栏成像，称其为明场像；如果只允许某支衍射束通过物镜光栏成像，则称为暗场像。有关明暗场成像的光路原理参见图2-1。就衍射衬度而言，样品中不同部位结构或取向的差别，实际上表现在满足或偏离布喇格条件程度上的差别。满足布喇格条件的区域，衍射束强度较高，而透射束强度相对较弱，用透射束成明场像该区域呈暗衬度；反之，偏离布喇格条件的区域,衍射束强度较弱，透射束强度相对较高，该区域在明场像中显示亮衬度。而暗场像中的衬度则与选择哪支衍射束成像有关。如果在一个晶粒内，在双光束衍射条件下，明场像与暗场像的衬度恰好相反。